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    用于分析電極材料電化學性能的同步輻射X射線衍射裝置及其應用

    1076   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 06:35:13
    本發明公開了一種用于分析電極材料電化學性能的同步輻射X射線衍射裝置及其應用。所述裝置包括組件A和組件B,所述組件A包括不銹鋼板a、Be玻璃窗a和絕緣板,所述不銹鋼板a和絕緣板上均設有通孔,所述Be玻璃窗a位于不銹鋼板a與絕緣板之間的通孔處,且通過固定不銹鋼板a和絕緣板使Be玻璃窗a固定于其間;所述組件B包括不銹鋼板b和Be玻璃窗b,所述不銹鋼板b上設有通孔,所述Be玻璃窗b通過固定件絕緣固定在不銹鋼板b的通孔內;且所述組件A與組件B間固定連接。本發明裝置可實現X射線透射式或反射式進行原位或非原位測定電極材料的同步輻射X射線衍射數據,且可重復利用,具有極大的應用價值。
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