本實用新型涉及半導體儲存技術領域,且公開了半導體用超純化學品儲罐的雜質檢測裝置,包括殼體,所述殼體頂部固定連接有檢測機構,所述檢測機構表面通過螺紋套螺紋連接有固定機構。該半導體用超純化學品儲罐的雜質檢測裝置,通過設置檢測機構,在使用的過程中,先將該裝置放入需要檢測的半導體用超純化學品儲罐內,打開補光燈,啟動電機,電機的轉動帶動傳動桿的轉動,傳動桿的轉動帶動第一齒輪的轉動,操作人員可以通過控制盒對傳感相機檢測到的畫面進行觀察,發現罐體內存在雜質,及時進行處理,從而能有效防止半導體用超純化學品在儲存時受到罐體內的雜質影響,造成半導體用超純化學品的損壞,降低了半導體用超純化學品損壞的風險。
聲明:
“半導體用超純化學品儲罐的雜質檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)