本發明公開了一種光電化學體系電參數檢測裝置,包括第一電解體系、第二電解體系、鹽橋、電流表、開關、照明光源、數據采集裝置以及計算機,所述第一電解體系以及第二電解體系均包括電解池、工作電極、參比電極、對電極以及恒電位儀,所述第一電解體系的工作電極以及第二電解體系的工作電極分別為光電極以及暗電極,所述工作電極、參比電極以及對電極均置于電解池中,所述工作電極、參比電極以及對電極分別與恒電位儀電性連接。本發明創造通過兩個恒電位儀以及電流表的設置,實現同時測量光電化學體系中光電極電勢、暗電極電勢以及光電流方向大小的功能,通過開關的設置控制光?暗電極的耦合及研究耦合過程中相應的電極電勢變化。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)