• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 化學分析技術

    > X射線熒光光譜法測定蛇紋石化學成分的方法

    X射線熒光光譜法測定蛇紋石化學成分的方法

    1371   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 06:46:27
    本發明公開了一種用X熒光光譜法測定蛇紋石中二氧化硅、氧化鎂、三氧化二鋁含量的方法。與現有的檢測技術相比較,本發明采用X射線熒光光譜法,克服了原有濕法化學分析方法操作復雜,分析時間長、使用試劑量大,易對環境造成污染等缺陷,實現了多元素同時測定,試劑用量少,操作安全環保的技術突破,具有分析速度快,樣品熔融玻璃片保留時間長,分析精密度、準確度高,適合鋼鐵企業生產過程中現場快速分析的需求。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “X射線熒光光譜法測定蛇紋石化學成分的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    化學分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>