一種用于測定顆粒物的化學和/或物理性能的測定裝置(1),具有至少一個用于光譜法測定顆粒物的光學檢測探頭,其中檢測探頭為了防止顆粒物入侵,可通過一閉鎖保護機構(16?19)暫時地鎖閉,從而在檢測探頭(3)前面形成一封閉的腔(20),而且在所述腔(20)中設有用于清洗和/或冷卻所述腔(20)和/或光學檢測探頭的清洗裝置和/或冷卻裝置。本實用新型還公開了一種具有所述測定裝置的松散物料清除機。
聲明:
“用于測定顆粒物的化學和/或物理性能的測定裝置和松散物料清除機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)