本發明公開了一種金屬膜厚測量方法和化學機械拋光設備,其中方法包括:利用電渦流傳感器測量晶圓表面的金屬薄膜的厚度,所述電渦流傳感器包括依次疊放的檢測線圈、激勵線圈和補償線圈;獲取所述電渦流傳感器的輸出電壓得到特征值,所述特征值等于輸出電壓的實部與虛部的比值,所述特征值與被測金屬膜厚呈線性關系;根據所述特征值確定被測金屬膜厚。
聲明:
“金屬膜厚測量方法和化學機械拋光設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)