本發明涉及了一種熱擴散法生產穩定同位素22Ne、20Ne產品中微量雜質的色譜分析方法,其特征在于應用關鍵組分分析數學概率理論,結合同位素分離實際狀況,采用三點概括法實現穩定性同位素22Ne、20Ne氣體純度的氣相色譜法一次檢測。該方法通過檢測穩定同位素22Ne、20Ne產品氣體中氧氣、氮氣及氫氣的含量來間接實現對22Ne、20Ne化學純度的分析。該方法對高純22Ne、20Ne同位素產品氣體純度檢測靈敏度達到99.99%,產品中H2、O2、N2的雜質成分檢測靈敏度達到3-20ppm級,而進樣量為0.5-1.2ml,并且重現性好、速度快、方法簡單方便、便于推廣至穩定同位素22Ne、20Ne的生產質量控制及激光陀螺制備工藝的工作氣體成分分析中。
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