本發明涉及一種剛玉粉末的粉末壓片XRFS分析方法。其技術方案是:在剛玉粉末中加入實驗室三級用水,攪拌,沉降;按沉降層面分三次取出,分別過濾和干燥,得到不同粒級的上、中和下層粉末,用壓片法分別制得XRFS分析用樣片,再依次用XRFS儀測量,得到各層粉分析樣片中待測組分的顯示含量;然后將與三層粉同粒級的校正樣品分別用壓片法制得XRFS三層粉校正樣片,測量三層粉校正樣片中待測組分的顯示含量,用濕法化學分析測得的相應的校正值計算校正系數;然后計算得到三層粉分析樣片中待測組分的實際含量,進一步得到所述剛玉粉末已測組分的實際含量。本發明具有操作簡單、成本低、廢棄物少和樣品污染小的特點。
聲明:
“剛玉粉末的粉末壓片XRFS分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)