本發明屬于電鏡物質識別分析技術領域,具體涉及一種夾雜物分析中用元素摩爾比進行顆粒識別的方法,先根據顆粒物質的化學式得到物質中各種元素原子的摩爾百分比,進行比對,其步驟如下:1)獲得所有待測量幀圖的位置,并對待測量幀圖進行排序;2)控制電鏡移動樣品臺到某一指定位置;3)拍攝并處理待測量幀圖;4)獲取所有打Xray的顆粒;5)采集所有Xray元素信息,進行元素分析,得到元素的重量百分比;6)將重量百分比換算成摩爾百分比;7)判斷是否是硫化物夾雜物;8)判斷是否是氮化物夾雜物;9)判斷是否是氧化物夾雜物;10)如果前面步驟未識別成功,定義為“未識別夾雜物”。本發明對于各種復合夾雜物(如尖晶石)的識別非常有效。
聲明:
“夾雜物分析中用元素摩爾比進行顆粒識別的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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