本發明涉及一種電子集成電路,所述電子集成電路包括固定于襯底(3)上的電子芯片(1),其組件受外殼保護,所述電子芯片設置有與布置在所述襯底上的連接焊盤(6)連接的輸入/輸出接線柱(2),其中所述電路還設置有至少一個侵入檢測裝置(9、10),所述至少一個侵入檢測裝置(9、10)能夠檢測所述外殼內部的機械和/或化學侵入和/或接近所述集成電路的敏感區的嘗試,其特征在于,所述侵入檢測裝置(9、10)包括檢測電路(9),所述檢測電路(9)被嵌入在襯底(3)中和/或放置在襯底(3)上并且被布置成在所述集成電路的一些敏感區緊鄰的附近經過,從而對接近任何所述敏感區的任何嘗試都造成所述檢測電路(9)的電狀態(閉合/斷開)的變化。
聲明:
“用于使電子集成電路外殼免受物理或化學侵入的設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)