本發明涉及降低分析物的測量中干擾化合物的影響的方法,更具體來說,涉及降低系統中干擾化合物的影響的方法,其中測試條(600)使用兩個或更多個工作電極(12,14)。在本發明中,給第一個工作電極(12)施加第一個電位(E1),給第二個工作電極(14)施加具有相同極性但是比第一個電位(E1)大的第二個電位(E2)。
聲明:
“使用兩個不同的施加的電位來降低電化學傳感器中的干擾的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)