本發明提供一種具有陣列式接點的檢測試片,包括一基板,及位于基板上的一電化學檢測區、一訊號識別區、一絕緣層、至少一訊號電極及一電阻元件。其通過數字訊號識別區中導通及未導通的數字訊號電極,以產生2(N*M-1)或2(N*M-2)組不同的數字識別訊號,以及通過一電阻元件的不同電阻值的變化設計,以產生K組不同的模擬識別訊號,因此可取得K*2(N*M-1)或K*2(N*M-2)組不同的識別訊號,來達到制作大量編碼資訊的目的。由此本發明即可提供多組不同的識別訊號,不僅可供不同客戶、檢測裝置或檢測試片使用,又可使效期內生產的檢測試片具有足夠的生產批號而不會重復的優勢。
聲明:
“具有陣列式接點的檢測試片” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)