本發明公開了一種粉末狀半導體材料電導率的測量方法。利用基于柵狀電極的電導率測試裝置,方法如下:于柵狀電極蝕刻槽中,滴加已知標準電導率的標準電解質溶液,通過電化學工作站測定標準電解質溶液的電阻;計算電池常數;于柵狀電極蝕刻槽中,添加待檢測粉末狀半導體材料,用玻璃壓片壓嚴,通過電化學工作站測定待檢測粉末狀半導體材料的電阻;計算待檢測粉末狀半導體材料的電導率。本發明原理簡單,設備均為實驗室常見測試儀器和材料,搭建和測試成本低且簡單易行,可測半導體種類多,且測試中對材料無損害可回收,數據處理簡便,結果準確。本發明為測量半導體材料電導率提供了新的手段,給科研工作帶來了很大的便利。
聲明:
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