本發明屬于化學物質檢測技術領域,涉及一種共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置。該方法將共焦物體表面定位技術和分立熒光光譜和熒光壽命測量技術相融合;利用共焦技術解決待測樣品表面三維形貌的高精度測量,同時利用分立熒光光譜及熒光壽命探測技術解決待測樣品表面各點的熒光光譜及熒光壽命的高靈敏度檢測,進而得到三維高分辨空間物質成分分布信息。本發明首次將共焦測量技術和分立熒光物質成分探測技術相融合,保證熒光成像系統在待測樣品表面每一個位置都具有相同的橫向分辨率,并最終將測得的熒光光譜分布和三維形貌進行精確的對應。此技術在生物學,醫學,材料科學以及臨床醫學診斷領域具有廣泛的應用前景。
聲明:
“共焦分立熒光光譜及熒光壽命探測方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)