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    組合式光尋址電位傳感器測試平臺

    960   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 07:27:50
    提供一種“組合式光尋址電位傳感器(LAPS)測試平臺”,包括主體框架1、光源控制器2、光源陣列插板3、LAPS芯片插板4、電極固定插板5、門板6,六個部分。LAPS芯片插板4的設計,采用了將LAPS芯片與儲液空間合二為一的方法;光源陣列的設計,采用了將光源與光源控制器分離的方案;測試平臺的組合方式,采用了插裝的方式,將光源陣列插板3、LAPS芯片插板4、以及電極固定插板5通過主體框架1內插槽8、9、10,插裝并固定在主體框架1內。本實用新型為LAPS提供液態電化學測試體系,解決了光源陣列與LAPS敏感單元陣列的匹配和對準問題。并且,當LAPS芯片的敏感單元陣列結構發生變化時,無須更改測試平臺整體結構,滿足LAPS對測試平臺靈活性的要求。
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    “組合式光尋址電位傳感器測試平臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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