本實用新型公開了一種熒光發光光譜與壽命探測系統,涉及熒光技術領域,該熒光發光光譜與壽命探測系統包括倒置光學顯微鏡、物鏡、全反鏡、外殼、聚焦鏡、可調節針孔、擴束鏡、光纖耦合器、多模光纖、單色儀、單光子探測器、二向色鏡模塊、潛望鏡組、光闌、可調中性濾波片組以及脈沖激光器。本實用新型實施例所述熒光發光光譜與壽命探測系統將熒光壽命成像與熒光波長探測相結合,進一步從兩種不同維度同時研究物體的屬性,通過融合了熒光壽命和熒光波長兩種參數同時探測,集成了共聚焦的高空間分辨率,以及單色儀對波長的精確篩選,為研究物體光物理化學屬性拓展了參照維度,從而提升了實驗的可靠性和全面性。
聲明:
“熒光發光光譜與壽命探測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)