• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 化學分析技術

    > 用于監測集成電路器件中的銅腐蝕的系統和方法

    用于監測集成電路器件中的銅腐蝕的系統和方法

    1180   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 07:29:09
    本發明公開了用于監測集成電路(IC)器件中的銅腐蝕的系統和方法。形成于IC器件中的腐蝕敏感結構可以包括與n型有源區相鄰的p型有源區,以限定p?n結空間電荷區。在硅上方形成的銅區可通過相應觸點連接至p區和n區兩者,從而限定短路。例如,在CMP工藝期間入射在p?n結空間電荷區上的光經由短路產生流過金屬區的電流,這驅動引起銅區腐蝕的化學反應。由于短路配置,銅區對腐蝕高度敏感。腐蝕敏感結構可被布置為在IC器件中具有較少的腐蝕敏感銅結構,其中腐蝕敏感結構用作監測IC器件中銅腐蝕的代理。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “用于監測集成電路器件中的銅腐蝕的系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    化學分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>