本發明提供了一種二氧化鈦表面包覆均勻性和分散性的表征方法。所述均勻性的表征方法包括以下步驟:(1)獲得待測二氧化鈦樣品表面多個不同測量點的化學成分;(2)分析并得到所述多個不同測量點的化學成分中同一包覆層化學元素含量的最大值和最小值之間的差值,所述差值越小,二氧化鈦表面包覆均勻性越好。所述分散性的表征方法包括:采用本發明的二氧化鈦表面包覆均勻性的表征方法,獲得二氧化鈦樣品表面不同測量點的化學成分中同一包覆層化學元素含量的最大值和最小值之間的差值,在其他條件相同的情況下,所述差值越小,二氧化鈦的分散性越好。本發明的方法具有簡單實用、可操作性強、快速準確等優點。
聲明:
“二氧化鈦表面包覆均勻性和分散性的表征方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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