本申請公開了用于測量樣品中化學元素的同位素比率的加速器質譜系統和相關方法,系統包括:離子源;第一分析器部分;串列加速器,其包括第一加速部分、電荷剝離部分和其后面的第二加速部分;第二分析器部分,其包括第二質量分析器和靜電分析器;粒子探測器;和控制器系統,其被配置為控制第一和第二分析器部分,其中附加分析器位于電荷剝離部分和第二加速部分之間,被配置為接收已離開電荷剝離部分的正離子,并將具有對應于預定電荷狀態值的電荷狀態的正離子與具有不對應于預定電荷狀態值的電荷狀態的正離子分離,以便在相互不同方向上傳輸具有不同電荷狀態的離子,使得只有具有對應于預定電荷狀態值的電荷狀態的離子被朝向粒子探測器傳輸。
聲明:
“加速器質譜系統和相關方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)