本發明公開了化學領域的一種分子圖像缺鍵識別技術,包括以下過程:S1:生成化合物分子式圖像;S2:生成圖像原子、化學鍵標注數據集;S3:生成環標注集;S4:原子、化學鍵檢測識別模型和環檢測識別模型;S5:生成化合物分子圖;S6:利用rdkit軟件工具進行分子圖的校驗并生成smiles或者inchi字符串;本發明提供一種技術方案,在化合物圖像識別的過程中,通過引入對化合物圖像中環的檢測,提高圖像中化合物缺失化學鍵的推理能力,從而提高化學分子式的識別準確率。
聲明:
“分子圖像缺鍵識別技術” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)