本發明涉及一種反滲透系統污堵的非破壞性查定方法,其是采用等離子體發射光譜儀對反滲透系統進水、反滲透化學清洗后的廢液以及反滲透系統污堵物質進行元素分析,以確定造成反滲透系統污堵的原因。本發明不需要反滲透系統停運,在反滲透系統運行狀態下進行,可同時進行其他方面的試驗和措施,且不會造成反滲透膜的破壞性損壞,有效降低分析成本。
聲明:
“反滲透系統污堵的非破壞性查定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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