本發明屬于納米塑料鑒定領域,公開了基于掃描電鏡?拉曼技術原位鑒定固體表面納米塑料顆粒的方法,在確保納米塑料有機結構不被損壞的前提下,通過掃描電子顯微鏡和含白光共聚焦顯微拉曼光譜聯用儀進行參數設定和測試,包括對待檢測固體樣品表面低電壓電子束條件下采用掃描電子顯微鏡靶向識別其存在的納米顆粒;和共聚焦顯微拉曼光譜原位鑒定上述識別的納米顆粒是否為納米塑料的步驟,最小鑒定尺寸為360nm,并實時鑒定出納米顆粒是否含有塑料成分。本發明可以實現對單個納米級顆?;瘜W成分的原位鑒定,同時確保納米顆粒的塑性結構不被電子束損壞。
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