本實用新型涉及一種單電極結構,包括基底,所述基底上設有固定面積的測試層,所述測試層上設有純金層,所述基底上設有導電層,所述導電層連接所述測試層,該電極結構通過在基底上設計面積固定的測試層,提高了測試精度,無需進行剪裁和打磨就可直接用作工作電極,簡便快捷,省時省力,基底采用USB接口部的形式,實現了與USB標準接口緊密對接的目的,簡化了與電化學工作站之間數據連通的對接操作,方便使用和更換該電極結構。
聲明:
“單電極結構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)