本發明屬于輻照管道束流分布測量技術,具體涉及一種用核孔膜確定單粒子效應專用輻照管道束流分布的方法。該方法將經重離子束流輻照后的核孔膜進行化學蝕刻;確定管道束流的束斑大小尺寸;利用在光學顯微鏡上安裝的攝像頭采集蝕刻后的核孔膜的圖像,將圖像傳送到安裝有視頻采集卡的計算機上;在束斑的大小范圍內,通過網格區域的劃分,依次存取每個單元格內的圖像;統計每個單元格圖像上的離子點數,確定束流的均勻性。該方法操作簡單,實現成本低,測量效果完全滿足抗單粒子效應性能評估試驗的需要。
聲明:
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