本發明涉及基于矩陣分解的微波熱成像無損檢測系統,包括微波激勵裝置和熱成像監測裝置;微波激勵裝置包括微波信號發生器、微波信號放大器、微波激勵傳感器和吸波材料;熱成像監測裝置包括熱像儀、數據采集處理裝置;數據采集處理裝置分別與微波信號發生器和熱像儀連接,從而獲得被測物的溫度變化數據。該基于矩陣分解的微波熱成像無損檢測系統能夠解決對不同類型缺陷進行快速成像和分離,突出缺陷范圍熱空間模式特征提取,解決了鄰近缺陷由于溫度混疊無法定位、分離和亞表面缺陷損傷面積難以有效量化問題;解決了對缺陷的自動分離問題,能對不同能量的撞擊缺陷和損傷面積進行快速成像。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)