本發明涉及一種利用超聲波來無損檢測受檢件(100)的方法,包括以下方法步驟:a.將定向超聲波脈沖以入射角β射入受檢件(100)之中,其中以電子方式調整入射角β;b.記錄由入射到受檢件(100)之中的超聲波脈沖產生的回波信號;c.確定入射位置X0,在該入射位置處可以記錄對應于受檢件體積中的缺陷(102)的回波信號;d.確定缺陷(102)的ERS值在位置X0處變得最大的入射角β最大;e.將受檢件(100)表面上的入射位置從X0變為X1,其中檢測入射位置的變化;f.以電子方式調整入射角β,以使得缺陷(102)的ERS值在改變后的入射位置X1處最大。本發明還涉及一種用來執行該方法的裝置。
聲明:
“利用超聲波來無損檢測受檢件的方法以及執行該方法的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)