一種白光中子成像方法,包括步驟:中子源發射脈沖中子束并記錄發射時間;探測器探測脈沖中子束得到中子的位置和到達時間并傳輸到處理單元;處理單元根據中子的到達時間及記錄的發射時間得到中子的能量信息,對中子按能量分組得到二維中子通量分布重復上述步驟,得到放置樣品時的二維中子通量分布根據的值及能量分組信息生成具有中子能量信息的中子透射圖像。另提出一種無損檢測材料組成的方法,利用不同角度采集的位置信息重建三維空間信息并結合能量信息得到空間單元格點的透射信息,將此值與原子核數據庫比對確定材料的組成。本發明在無損情況下可精確地確定材料的組成,測量的中子能量范圍最寬可以覆蓋從eV到百兆eV。
聲明:
“白光中子成像方法及采用其的材料組成無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)