本申請涉及一種無損檢測系統以及方法。無損檢測系統包括:聲發射檢測裝置,用于對被測目標進行聲學檢測,并根據聲學檢測結果確定被測目標的損傷區域。電學層析成像檢測裝置,用于對損傷區域內的被測目標進行電學檢測,并根據電學檢測結果重構損傷區域內的被測目標的電特性參數分布,且根據電特性參數分布確定損傷區域內的被測目標的損傷情況。該損檢測系統能夠對被測目標進行低成本、高速度、高精度的無損檢測。
聲明:
“無損檢測系統以及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)