本發明公開了一種涂層-基體界面激光預處理質量的無損檢測方法,其具體步驟為:用激光束對基體表面進行微熔處理,建立指定激光工藝條件下的基體表面微熔狀態的標準圖譜以及基體表面微熔區寬度與激光硬化區深度之關系,不同工件激光處理效果及其一致性通過與標準圖譜的實時對比加以控制,基體最大激光硬化深度則通過測定表面微熔區寬度并根據其與激光硬化區深度的關系予以確定。本發明涂層基體界面激光預處理質量無損檢測方法,可以通過對表面激光預處理狀態的控制和測量及其與標準圖譜的對比,直接評價基體激光預處理效果和質量,無需破壞工件對激光處理區域進行解剖和制作金相試樣。
聲明:
“涂層-基體界面激光預處理質量的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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