本發明公開一種快速無損檢測并同時篩選出低鎘大米或糙米的方法,屬于食品檢測領域。本方法在原有能量色散X射線熒光光譜儀僅能用于大米或糙米的鎘含量檢測,改良后的能量色散X射線熒光光譜儀不僅可實現快速無損地檢測,還有區分出超標和疑似超標的樣品杯,實現物理分離的功能。本方法能在保證準確性的前提下,大米或糙米無需前處理,也無需磨粉,直接上機檢測。500g大米分裝成44個樣品杯,耗時15分鐘;每個樣品杯上機測試和抓取分離耗時5分鐘,44個樣品總耗時220分鐘,加上管控樣品測試時間,500g大米或糙米實現低鎘大米的分離共耗時4小時左右。對留在樣品盤外圈的樣品進行收集,此類大米或糙米可放心食用。
聲明:
“快速無損檢測并同時篩選出低鎘大米或糙米的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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