本申請公開了一種用于電子產品無損檢測的X光機,包括:上料緩沖倉、X光檢測倉和出料緩沖倉,上料緩沖倉和出料緩沖倉分別設置在X光檢測倉的前后兩側,上料緩沖倉具有與X光檢測倉連接的第一輸送平臺,出料緩沖倉具有與X光檢測倉連接的第二輸送平臺;X光檢測倉包括X光發射器、X光相機以及軌道輸送機構,X光發射器和X光相機分別設置在軌道輸送機構的上下兩側,軌道輸送機構的前后兩側還分別與第一輸送平臺和第二輸送平臺連接;上料緩沖倉用于將電子產品輸送至X光檢測倉,經X光檢測倉檢測后的電子產品被出料緩沖倉輸出。本申請用于二手電子產品內部硬件無損、不拆機檢測,其不影響二手電子產品的二次售賣,提高檢測效率,節省檢測成本。
聲明:
“用于電子產品無損檢測的X光機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)