本發明公開了一種無損檢測高精度元件缺陷的方法,包括:搭建依次設置的且包含X射線光源、源光柵G0、分束光柵G1、分析光柵G2及探測器的光路,該光路中的源光柵G0的周期與分析光柵G2的周期、分束光柵G1的周期與分析光柵G2的周期滿足預設條件;將待檢測高精度元件放置于分束光柵G1與分析光柵G2之間,對待檢測高精度元件進行相位襯度成像,獲得待檢測高精度元件的折射信號和吸收信號,從而對其缺陷進行檢測。采用本發明公開的方法,可以快速高效地檢測高精度元件的微小缺陷,適用于非透明物體。
聲明:
“無損檢測高精度元件缺陷的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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