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    用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭

    1303   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:57:50
    本發明公開了一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的雙探針透射式探頭,包括光源探針、檢測探針、固定裝置,其中光源探針、檢測探針平行設置在固定裝置上,光源探針上設置的出射窗正對著檢測探針上設置的入射窗;光源探針內安裝有出射光線發出裝置,檢測探針內安裝有檢測裝置,出射光線發出裝置將出射光傳導至出射窗進入到固體顆粒物,出射光經過固體顆粒物形成的透射光經入射窗進入即得到入射光線,入射光線被檢測裝置接收,檢測裝置將接收到入射光線的光信號轉換為電信號傳輸出去。本發明對比現有的透射、漫反射檢測方式,這種透射式探頭省去了樣品池,不需要取樣、裝樣等操作過程,使用更加方便,檢測效率更高。
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