本申請公開了一種無損檢測的太赫茲線陣雷達掃描成像系統及方法,采用多發多收的一維稀疏線陣,并將波導天線與一維稀疏線陣結合,通過波導天線縮小一維稀疏線陣中的陣元間距,使得一維稀疏線陣的等效線陣排布更緊湊,從而提高橫向的成像分辨率。同時,通過二維移動架驅動波導天線進行掃描,可以獲得待檢測的非介電復合材料的三維形貌圖像,同時,還通過預置的超分辨率圖像重構模型對第一目標圖像進行重構,從而可以實現在較低頻段獲得原本在高頻段才可以獲得的高精度橫向分辨率的圖像,降低了硬件成本,解決了現有技術中的成像系統對非介電復合材料成像的分辨率較低,從而難以準確地檢測缺陷的技術問題。
聲明:
“無損檢測的太赫茲線陣雷達掃描成像系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)