本發明公開了一種基于高光譜空間散射曲線的蘋果硬度無損檢測方法,包括步驟:樣本的選取;高光譜數據的采集;硬度的標準值的測定;對高光譜數據的處理;硬度預測模型的建立和評價。本發明的技術方案通過獲取攜帶蘋果內部組織(與蘋果的硬度直接相關)信息的高光譜空間散射曲線得到空間散射曲線的擬合參數,利用該參數建立硬度預測模型,從而能夠利用該模型實現對蘋果硬度的檢測。
聲明:
“基于高光譜空間散射曲線的蘋果硬度無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)