本發明涉及硅片檢測技術領域,公開了硅拋光片或外延片層錯及位錯缺陷的無損檢測裝置,包括筒體,筒體通過三個隔板對稱設有三個放置區,且三個隔板呈均勻分布設置,三個隔板相背離一側的側壁均與筒體的內壁固定連接設置,筒體內壁的中心處固定連接有圓筒,且圓筒的側壁分別與三個隔板的側壁固定連接設置,圓筒內還設有放料機構,筒體的底部對稱固定連接有四個支撐腳,放料機構包括放置盒、套筒和活動桿,放置盒的底部開設有多個通孔,套筒位于圓筒內設置,圓筒的內壁對稱開設有三個凹槽。本發明能夠便于對硅片與各個溶液進行反應,同時提高了反應的效果,提高了工作效率,便于人們的使用。
聲明:
“硅拋光片或外延片層錯及位錯缺陷的無損檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)