本發明提出一種基于光譜特性的西瓜成熟度快速無損檢測方法,包括以下步驟:步驟S1:獲取西瓜的可見/近紅外光譜;步驟S2:對步驟S1獲取的光譜提取峰值peak1和峰值peak2;步驟S3:計算RPP值和/或NDIP值:RPP=peak1/peak2;NDIP=(peak1+peak2)/(peak1?peak2);步驟S4:對多個西瓜樣本執行步驟S1?步驟S3,對計算獲得的RPP值和/或NDIP值的數據集進行訓練,通過遺傳算法獲得RPP和/或NPID的邊界校正因子CRPP和/或CNDIP。該方法能夠有效分辨成熟的西瓜、減少未成熟西瓜的采摘,實現經濟利益的最大化。
聲明:
“基于光譜特性的西瓜成熟度快速無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)