提出了一種伽馬射線照相裝置(1),其包括:殼體(3),其具有允許將電離輻射發射到殼體(3)之外的擊發孔(10);保持卡箍(5),其旨在緊緊地包圍待分析結構(T);以及用于將殼體(3)可移除地緊固到卡箍(5)的裝置,其包括用于將殼體(3)緊固在卡箍(5)周圍的預設且不同的角位置中的多個緊固元件(52),擊發孔(10)設計為當結構由卡箍(5)緊緊地包圍且殼體(3)通過一個緊固元件緊固到卡箍(5)時將電離輻射引導到結構(T)上。
聲明:
“用于通過伽馬射線照相來無損檢測結構的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)