本發明屬于測量技術領域,具體為一種薄壁殼體無損綜合測量裝置。該測量裝置包括:傳感器、運動機構、基座、龍門架;其中,傳感器采用雙頭精密位移傳感器,包括上測頭和下測頭的雙測頭測量;運動機構為七自由度機構,包括四個移動自由度機構以及三個轉動自由度機構;該裝置針對變曲率薄壁殼體,通過更換傳感器,以用于不同的測量需求,包括,內輪廓測量、外輪廓的測量、全局表面缺陷的測量等,可實現大尺寸、高陡度、深內腔的薄壁殼體的形位誤差(內外表面形狀誤差、壁厚)及全局表面缺陷的高精度測量。
聲明:
“薄壁殼體無損綜合測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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