本發明涉及一種光學無損探測單納米顆粒表界面轉化的方法。該方法利用單納米顆粒表界面轉化光學成像系統對單個納米顆粒的表界面轉化過程進行無標記識別,通過計算目標顆粒的本征參數ψ——這一特征量的變化,分析顆粒的表界面轉化過程,克服目前現有分析方法難以對納米顆粒的表界面轉化過程進行原位實時精準分析與識別的難題,該方法具有非侵入性、高通量、抗干擾、研究對象寬泛等優點,可用于單粒子水平下的納米顆粒表界面轉化及構效關系等研究,拓展了納米科學成像分析的應用。
聲明:
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