本發明公開一種基于微波反射的金屬構件缺陷的無損定量識別方法及系統,應用于無損檢測領域,針對現有技術中采用矢量網絡分析儀采集反射系數相位參數時相位纏繞現象,通過基于最小二乘法的無權重的Gauss?Seidel的方法進行相位解纏,恢復模糊掉的相位周期,獲得掃描過程中采集位置的真實相位值,使反射系數相位信息更加準確;從而通過求解解纏相位離散點的梯度,根據梯度最大值和最小值計算出缺陷位置邊界;并且本發明微波檢測信號激勵中使用設定的優化提離和優化頻率參數進行檢測,檢測效果更好。
聲明:
“基于微波反射的金屬構件缺陷的無損定量識別方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)