本發明涉及光學材料,屬于光學材料加工領域。一種無損尋找石英晶體光軸方向的方法,首先向石英晶體入射紅外光,測定反射光頻率;然后調整入射紅外光頻率,使之在850cm?1~750cm?1范圍掃描;然后360度范圍內調整石英晶體的方向,直至反射光譜由雙峰轉換為單峰,即確定入射紅外光與反射紅外光之間的中線方向即為光軸方向。該方法能夠迅速確定晶體的光軸方向。同時相比于現有光學打磨肉眼識別技術,本技術能夠適用于各種表面形貌的石英晶體,而且無需對樣品進行處理,所有樣品均可上機測試。與當前國內外同類技術相比,本方法效率高、成本低、無毒環保、操作方便,突破了傳統的方法,且適用于大小不同、表明形貌各異的石英樣品。
聲明:
“無損尋找石英晶體光軸方向的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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