本實用新型公開了一種檢測用轉接塊、一種檢測用轉接頭和一種檢測機構,屬于無損檢測領域。一種檢測用轉接塊,轉接塊中布設有若干通孔;一種檢測用轉接頭,包括轉接塊和第一插針,第一插針的截面尺寸與通孔適配;一種檢測機構,依次包括:底座、第二插針、轉接塊、第一插針和探頭,第二插針與底座內部電路連接,第二插針的形狀與轉接頭內的通孔適配;探頭上設置有插針接口,插針接口形狀與第一插針的形狀適配。本實用新型通過在轉接塊內設置通孔,且第一插針和第二插針在通孔內活動相抵,實現信號的導通,本實用新型可以通過調整第一插針和第二插針在通孔中的位置,使本實用新型和各類型檢測探頭有效配合,具有較高的通用性和互換性。
聲明:
“檢測用轉接塊、一種檢測用轉接頭和一種檢測機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)