本發明公開了一種快速檢測II型紅外超晶格界面質量的光譜方法和裝置。該裝置包括具有步進掃描功能的傅里葉變換紅外測量系統、作為泵浦光源的激光器、變溫變磁場樣品測量系統、以及聯接傅立葉變換紅外光譜儀中探測器和電路控制板的鎖相放大器、置于變溫變磁場樣品測量系統和激光器之間光路上的斬波器。本發明使用上述設備,通過測試II型紅外超晶格的光致發光強度隨磁場的衰減程度,快速檢測II型紅外超晶格的界面晶格質量。通過對分子束外延生長的紅外波段InAs/GaSb?II型超晶格的測試表明:本發明方法是一種快速便捷的檢測II型超晶格界面的光學方法,其具有無損靈敏的優點,非常適用于紅外II型超晶格界面微弱光學信號的檢測。
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