• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 無損檢測技術

    > 半導體摻雜的擴散深度檢測方法

    半導體摻雜的擴散深度檢測方法

    965   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:08
    一種半導體摻雜的擴散深度檢測方法,方法包括:進行摻雜劑擴散,測得半導體光電探測器件的擊穿電壓;根據擊穿電壓計算摻雜劑的擴散深度并根據檢測擴散深度對器件進行補擴散,以優化擴散工藝。檢測方法無需完成所有芯片的流片工藝,無需劃裂片至單個芯片器件,并且無需其他表征檢測手段的破壞性制樣,并且可以在完成摻雜劑擴散時對晶圓片上點進行大范圍快速、無損性的測試與抽測,測試表征準確,高效、無損?;谠摲椒▽U散工藝進行優化以達到預期目標及后續流片工藝。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “半導體摻雜的擴散深度檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    無損檢測
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>