本發明涉及一種使用光學方法快速判斷近似均勻的非透明介質中是否存在異質體并確定異質體位置和大小的方法,屬于光學無損檢測領域,包括:使用多個檢測器對光源經近似均勻的非透明被測物體后的出射光進行檢測,在多個檢測器獲得被測物體差分光密度(ΔOD)的基礎上,對差分光密度差異(ΔOD’)進行計算,并對差分光密度差異曲線的特征參數進行提取,根據所提取的特征參數判定介質中是否存在異質體以及異質體的橫向和縱向位置。本發明的有益效果是:為基于光學檢測近似均勻的非透明介質中異質體檢測技術提供最佳光源?探測器放置位置的輔助參考,其準確的光源?探測器定位將有效提高光學無損檢測的精度;同時,本方法可作為快速評估介質內是否含有異質體的有效輔助手段。
聲明:
“用于檢測近似均勻的非透明介質中異質體的快速定位方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)