本發明公開了一種基于脈沖渦流的多層導電結構缺陷檢測裝置及其方法。半橋驅動電路分別與PC機、51單片機系統、激勵信號放大模塊、穩壓電路、差分霍爾檢測探頭相連,穩壓電路分別與激勵信號放大模塊、信號調理采集模塊相連,信號調理采集模塊與PC機相連,GT400運動控制器上設有待測多層導電結構,待測多層導電結構上方設有差分霍爾檢測探頭并用固定機構固定,PC機與GT400運動控制器相連,差分霍爾檢測探頭與信號調理采集模塊相連。本發明采用差分霍爾檢測探頭進行無損檢測,不需要任何耦合介質,檢測速度快,生產效率、檢測靈敏度、可靠性高。利用PC機組態軟件可監控裝置工作情況。
聲明:
“基于脈沖渦流的多層導電結構缺陷檢測裝置及其方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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