本發明公開了一種原子層沉積系統原位實時檢測方法及裝置,所述方法包括:在對樣片進行原子層沉積成膜時,通過反射式高能電子衍射檢測所述樣片的表面,以獲得檢測數據;根據所述檢測數據,獲得所述樣片的原子層沉積反應機理信息。用以解決現有技術中的原子層沉積技術,其反應機理缺乏合適的原位檢測技術的技術問題。提供了一種無損的原子層沉積實時檢測方法及裝置。
聲明:
“原子層沉積系統原位實時檢測方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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