本發明公開了一種基于偏最小二乘回歸模型的無機熒光粉檢測方法, 包括無機熒光粉和純聚乙烯干燥步驟、定量混合步驟、研磨步驟、壓片步驟、采用透射式太赫茲時域光譜儀掃描檢測樣品得到太赫茲時域光譜步驟、建立偏最小二乘回歸模型步驟和計算最佳主成分數步驟,利用物質的THz光譜具有唯一性和特征性, 采用THz?TDS技術對熒光粉做到無損檢測,對材料結構和物理性能沒有影響的前提下,快速有效區分其內部細微結構的不同,檢測區分不同廠家不同品牌的熒光粉,提高了檢測方法的可靠性,能進一步推動THz光譜技術的應用和研究。
聲明:
“基于偏最小二乘回歸模型的無機熒光粉檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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