本申請提供了一種大米加工精度的檢測方法、裝置、電子設備及介質;所述檢測方法包括以下步驟:獲取包括隨機放置的多粒目標大米的初始大米圖像,從中提取出每個單粒目標大米的目標圖像;根據目標圖像,提取出每個單粒目標大米的多個特征參數;特征參數包括顏色特征參數和紋理特征參數,紋理特征參數是根據目標圖像中像素點的灰度和梯度提取得到的;對多個特征參數進行降維融合處理,得到多個目標融合特征,多個目標融合特征的累計貢獻率大于預設累計貢獻率閾值;將多個目標融合特征輸入至訓練好的檢測模型,得到每個單粒目標大米的加工精度檢測結果,從而快速、無損、客觀、準確的確定大米加工精度。
聲明:
“大米加工精度的檢測方法、裝置、電子設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)